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這款 PL75-B1 尖頭彈簧針在電子測試中主要解決哪些應用挑戰?
PL75-B1 採用 30 度尖頭 (B1形) 設計,最適合用於 ICT 測試治具,解決 PCB 板上微細測試點、金手指或通孔的導通檢測問題。其 1.91mm 的最小間距特性,能滿足高密度電路板的精準佈線與測試需求。
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哪些專業技術人員或產業會將這款彈簧探針列為標準採購耗材?
此產品專為電子製造服務商 (EMS)、自動測試設備 (ATE) 製造商以及電路板治具加工廠設計。其具備 120g 穩定彈力,是開發功能測試 (FBT) 或燒錄治具的技術工程師與機電團隊的首選。
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PL75-B1 彈簧針具備哪些結構優勢能確保高頻次測試的穩定性?
產品核心採用磷銅軸鍍金材質,搭配不鏽鋼線彈簧,兼顧卓越導電性與耐用度。33.35mm 全長設計搭配 120g 彈力,可在頻繁的接觸測試中保持低接觸電阻,顯著提升自動化產線的檢測效率。
◎ 頭部直徑 / 全長:φ0.74 x 33.35(L)mm
◎ 彈簧:不鏽鋼線